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단일채널 뇌파(EEG) 테스트 시스템
SEEG 100은 IEC 60601-2-26 및 GB 9706.226 표준에 따라 설계된 EEG 장비 성능 검증용 단일채널 테스트 시스템입니다.
최대 ±1V 디지털 신호를 정밀한 1000:1 감쇄 회로를 통해 ±1mV (2mVpp) 수준으로 출력하며, 다양한 정형 및 특수 파형을 Ch1~Ch9 전극을 통해 출력할 수 있습니다. DC offset, 입력 임피던스, 노이즈, 주파수 응답 등 다양한 항목에 대한 자동화된 테스트를 지원합니다.
견적문의

용도

EEG 장비의 감도, 주파수 응답, 입력 임피던스, 노이즈 특성 테스트

IEC 60601-2-26, GB 9706.226, JJG 및 JJF 시리즈 국가규격 시험 지원

정현파, 사각파, 펄스파 등 표준 신호 출력 및 자동 테스트

PhysioNet 및 텍스트/EDF 기반 실제 뇌파 신호 출력

SDK 기반 자동화 테스트 및 연구 개발 환경 통합

특징

  • IEC 60601-2-26, GB 9706.226 등 국제 및 중국 의료기기 성능 표준 시험 지원

  • 정형 및 특수 파형(PhysioNet 등) 출력 기능

  • ±300mV DC 오프셋: 내부 슈퍼커패시터 기반, ±1% 정확도 유지

  • PC 기반 소프트웨어 제어 및 실시간 파형 표시

  • 출력 전극 선택 및 다채널 전극 연결 지원

  • 소프트웨어 보정 모드 및 정밀 캘리브레이션 절차 내장

  • 소프트웨어 개발 키트(SDK): C/C++, C#, Python 등 자동화 연동 가능

사양

  • 출력 전압 범위: ±1mV (정밀 감쇄 회로 적용)

  • 출력 해상도: 0.5μV

  • 주파수 정확도: ±0.1% / 펄스 폭 정확도: ±0.2ms

  • 샘플링 속도: 5 kHz ± 0.05%

  • DC 오프셋: 고정형 ±300mV(±0.1%), 가변형 ±1000mV (±1%)

  • 정형 파형: Sine, Triangle, Square, Rectangle pulse, Triangle pulse, Hysteresis

  • 출력 전극 임피던스: 10kΩ (피부 임피던스 시뮬레이션)

  • 입력 임피던스 테스트: 620kΩ // 4.7nF 삽입 가능

  • 신호 잡음 삽입: 50Hz / 60Hz / 80Hz / 100Hz

  • 주파수 스캔: 0.67 ~ 500Hz (지속 시간 설정 가능)

제품 카탈로그

제품 카탈로그 다운로드 URL
seeg100-datasheet210x297mm-en-v2.4-20241129 (1).pdf 다운로드 URL
SEEG100 USER MANUAL.pdf 다운로드 URL